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新技术测量防锈漆膜腐蚀原因

    新型显微镜--扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)正在越来越多地应用于防锈漆腐蚀科学研究中。腐蚀科学家可以用这些显微镜,通过以原子尺度分辨率对观察表面直接成像,对腐蚀过程进行原位或非原位的研究。另一种完全不同的显微镜是扫描电化学显微镜,用它可以原位观察固液介质区域的溶液中反应物的局部分布,并能确认防锈漆基材表面优先发生点蚀的位置。

    原位研究表面显微组织对腐蚀过程影响的机会,其中再坐例是局部电化学阻抗谱(LEIS)和动太快图像微椭圆术(DIM)。LEIS利用一种能产生合金显微组织特征的电化学阻抗谱的探针,DIM是一种具有高空间分辨率的快速、全域成像技术,可以进行原位椭圆测量(一种测量膜厚和光学常数的光学方法)以得到表面显微组织的特征。该技术为确认控制防锈漆点蚀发生位置的显微组织的特征提供了机会。

    新型原位光谱仪:这里提及的再种光谱你就利用的是辐射或微粒子的动力源。第yi种光谱仪为X射线吸收光谱仪,需要高辐射通量的X射线淅,可由同步加速器辐射光源产生。用该 技术可以看到很薄的钝化膜层。防锈漆随吸收光谱中被采用的区域不同,可确定钝化膜的成分和化合价、膜中电子转移以及组成膜的原子间的能带宽度、配位数和膜中排列的有序程度。第二种光谱仪为中子反射仪,用一核反应堆产生慢中子源来进行钝化膜的结构、成分和磁性的原位测量。

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